Métrologie des surfaces 3D optique

Descriptif

Conçu par la société Altimer, l'AltiSurf 520 TPR est destiné à la métrologie des états de surface sans contact et à contact faible force. Il permet la mesure de l'état de surface et de la forme en micro-diamètre intérieur jusqu'à100?m. Il possède les spécifications- type de haute précision et d'architecture en portique granit de l'AltiSurf 520, avec une mesure multisonde à optique confocale chromatique, de dynamique 350 ?m et 100 ?m, associée à une caméra CCD de haute résolution, ainsi qu'à un micropalpeur inductif en carbone tungstène de diamètre 35 ?m et tip-radius 2 ?m. La résolution de mesure est de 5 nm et autorise des mesures capables sur des états de surfaces de Ra 0,1 ?m. Ses axes sont motorisés à courant continu, avec neuf axes intégrés : X mesurant à codeur 0,1?m, YZ de positionnement et mise en dynamique des sondes à codeur 0,5 ?m, X'Y'Z' à codeur 90 nm de mise en confusion de la pièce à mesurer, théta et Phi goniométriques d'inclinaison et rotation, Phi' de positionnement des alésages. Intégrée en rack standard 19 pouces, avec bus et PC industriels sous architecture PheNIX, l'AltiSurf 520 TPR autorise des cycles de mesure rapides et capables dans le cadre de la nouvelle norme ISO 25 178.