Les évolutions de la magnétoscopie
La magnétoscopie est une des plus anciennes méthodes de contrôle non destructif. Elle est couramment utilisée dans l’industrie pour inspecter de façon globale, fiable, rapide et pour un coût raisonnable, l’ensemble d’une pièce, pourvu que le matériau qui la constitue soit de nature ferromagnétique. Malgré cela, la magnétoscopie souffre aujourd’hui bien souvent d’une image désuète. Pourtant, la magnétoscopie a su évoluer et s’adapter aux contraintes industrielles actuelles. Technique largement éprouvée, elle mérite que l’on parle d’elle.
Figure 1 : Exemples de défauts révélés par magnétoscopie.
Figures 2 : Exemples de banc de magnétoscopie en 1960 à gauche et en 2006 à droite.
Figure 3 : Schéma de principe d’un banc avec gradateur thyristors
Figure 4 : Courant dans la charge.
Figure 5 : Évolution des appareils de mesure de champ tangentiel.
A - Magnétoscope 1580 (1970). Cadre mobile.
B - ADC3 (1990). TRMS numérique.
C - MDC3 (1995). TRMS analogique.
D - Analyse (2003). TRMS numérique.
Figure 6 : Platine de commande du système « Pulstronic » motorisation de la commande pour assurer une démagnétisation automatique.
Figure 7 : Schéma de principe d’un système régulé.
Figure 8 : Évolution de l’interface utilisateur des bancs de magnétoscopie.
A - 1960 (commande manuelle à plots, affichage à aiguille), B - 1985 (commande à réglage continu par thyristors, affichage et minuterie numériques), C - 1997 (commande à réglage continu par thyristors avec régulateur, affichage et minuterie numérique), D - 1999 (interface par pupitre opérateur avec création de "recettes", régulation par l'automate).
Figure 9 : écran tactile LCD. 2004 (informatisation du poste de pilotage, écran tactile convivial et adaptable, création et mémorisation de « recettes », régulation adaptative).
Figure 10 : Principe de l’aimantation par champ tournant sur banc.
Figure 11 : Tête alternative SREM 12000A.trs / tête.
Figure 12 : Contrôle de crémaillères - aimantation par champ tournant sur banc.
Figure 13 : Détection de défauts par système de vision.
Figure 14 : Optimisation de la fréquence pour détecter certains types de défaut.
Figure 15 : Exemple de résultats concernant l’éclairey PF310.
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