Apport des techniques de microscopie électronique in situ dans la caractérisation des matériaux

N°389 - Septembre 2008

Développés depuis plus de cinquante ans, les microscopes électroniques ont connu des progrès techniques considérables et leur apport en métallurgie est fondamental. La microscopie électronique à transmission atteint depuis de nombreuses années la résolution atomique et la microscopie à balayage constitue un outil d’une extrême souplesse. Combinés à une platine instrumentée en température et/ou en déformation et également à d’autres détecteurs (EBSD, CCD…), les microscopes électroniques se transforment en micro ou nanolaboratoire. L’objectif de cet article est de donner un aperçu des possibilités offertes par la microscopie électronique in situ en température et/ou en déformation.

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